메모리는 Ex와 Es를 순차적으로 측정 할 수 있으므로 동일한 앰프와 검출기를 둘 다 사용할 수 있습니다. 따라서 시간 또는 주파수에 따른 게인 또는 위상 변화는 Division Ex / Es에서 취소됩니다.
이 메모리는 고정밀 대체 측정에서 특히 중요한 고정밀도를 위해 많은 측정을 평균화합니다.
가변 구성 요소가 없습니다. (가변 공기 커패시터를 제외하고, 수십 년 및 가변 저항과 같은 조절 가능한 부품에는 오히려 더 큰 매개 변수가 있습니다).
그것은 위상 참조가 공통 각도 b와는 독립적 인 신호 Aej (a + b) / Be (jb) = (A / B) e (ja)에 대해 임의의 각도에있을 수 있도록 복잡한 분할을 만든다. 이는 기준에 대한 각도입니다. 정확한 위상 정확도를 제공하는 디지털 방식의 정확한 90도 기준을 허용합니다.
표준 C 또는 L이 없습니다. C 및 L을 측정하는 대부분의 브리지는 표준 커패시터를 사용합니다. 정밀 에어 커패시터를 제외하고 커패시터는 Vishay 저항보다 드리프트 및 TC가 높다.
메모리는 외부 표준 (Cal Kit)에 의한 교정을 허용합니다. 따라서 내부 표준에서의 장기간의 드리프트는 재 교정에 의해 제거 될 수있다.
그 정밀도는 노이즈에 의해서만 제한되며 판독 분해능은 ppm ( "델타 %"모드)입니다. 그 정확도는 주로 내부 및 외부 표준 모두에 대해 25ppm / 년의 Vishay 규격 (일반적으로보다 안정적)에 의해 제한된다. 둘 다 더 자주 교정되면이 오류가 크게 줄어 듭니다.
이것은 모든 테스트 연결과 Cal Kit 캘리브레이션의 직렬 저항 및 인덕턴스 (자체 및 상호) 및 션트 커패시턴스를 제거하는 개방 및 단락 회로 제로 보정을 허용합니다.
R, C 및 L 또는 모든 임피던스를 동일한 정확도로 측정합니다. 계기는 오퍼레이터가 표시 할 내용을 알릴 때까지 차이를 "알지 못합니다".
보호 된 (3 단자), Kelvin (4 단자) 또는 "5 단자"측정을 만듭니다.
이 검출기는 예리한 필터 역할을하며 홀수 및 짝수 고조파를 제거하는 사인파 "창"을 사용합니다.
